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產(chǎn)品詳細(xì)頁渦流點(diǎn)式探頭
- 產(chǎn)品型號(hào):
- 更新時(shí)間:2017-11-07
- 產(chǎn)品介紹:渦流點(diǎn)式探頭作為一般規(guī)律,為了得到高的靈敏度,點(diǎn)探頭直徑應(yīng)該等于或者小于所要檢測(cè)的缺陷長(zhǎng)度。對(duì)渦流探頭,特別是進(jìn)口探頭,提供國(guó)產(chǎn)化代用的服務(wù)和供貨;解決用戶的渦流探頭備件價(jià)格昂貴/供貨周期長(zhǎng)的問題; 為國(guó)內(nèi)外設(shè)備供貨商提供OEM服務(wù);
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產(chǎn)品介紹
良好的渦流點(diǎn)式探頭設(shè)計(jì)和適宜的探頭結(jié)構(gòu)形式能使原本不易探測(cè)的缺陷信號(hào)得以增強(qiáng),使之易于被發(fā)覺。上海倉信電子科技有限公司憑借多年的探頭制作經(jīng)驗(yàn),精心設(shè)計(jì)和嚴(yán)格質(zhì)量控制體系,提供各種類型優(yōu)良性能的渦流檢測(cè)探頭,能適應(yīng)各種不同型號(hào)渦流儀使用。當(dāng)選擇ET系列渦流儀和與之相配的探頭,可以得到*匹配性能和zui高的檢測(cè)靈敏度。
經(jīng)分析研究,影響渦流點(diǎn)式探頭式線圈檢測(cè)靈敏度的因素主要有以下三點(diǎn):
1)提離和缺陷埋藏深度對(duì)靈敏度的影響:當(dāng)探頭的提離間隙增大時(shí),線圈和工件之間的互感減小,工件中的磁通密度減小,缺陷檢出靈敏度降低。線圈直徑不同,磁通密度隨提離的變化不一樣,導(dǎo)致檢測(cè)靈敏度也不一樣。點(diǎn)探頭直徑越小,靈敏度隨提離下降越快。距離工件表面越深,磁通密度越小,檢出缺陷的靈敏度也越低。
2)尺寸對(duì)靈敏度的影響:渦流的流動(dòng)局限于點(diǎn)探頭磁場(chǎng)變化的區(qū)域,區(qū)域的大小是線圈尺寸和幾何形狀的函數(shù)。對(duì)于式檢測(cè)線圈,缺陷靈敏度反比于線圈直徑。
3)檢測(cè)頻率對(duì)靈敏度的影響:在使用渦流點(diǎn)探頭式線圈探傷之前,應(yīng)弄清缺陷的類型,大小,取向以及埋藏深度。一般來說,使用一種形式的探頭和一種檢測(cè)頻率,難于發(fā)現(xiàn)所有類型,大小,取向和埋藏深度的缺陷。而檢測(cè)頻率的選擇對(duì)靈敏度的影響至關(guān)重要。
選擇工作頻率的原則是要使缺陷和其他變化因素易于分辨。因?yàn)闄z測(cè)中zui頭痛的干擾是提離效應(yīng),所以缺陷和提離的區(qū)分是主要考慮因素之一。在選擇檢測(cè)頻率時(shí),應(yīng)使?jié)B透深度等于被檢缺陷的埋藏深度,這樣才能在提離和缺陷之間得到良好的相位分離。如果在檢測(cè)時(shí)發(fā)現(xiàn)信號(hào)難以判斷,分不清是由缺陷還是由其他變化引起的,可以通過改變檢測(cè)頻率進(jìn)行判斷。